Verios XHR SEM

VeriosVângFEIDẫn đầuXHR(Độ phân giải cao)SEMSản phẩm thế hệ thứ hai của bộ sưu tập. Trong sản xuất chất bán dẫn tiên tiến và các ứng dụng khoa học vật liệu, nó có thể được tìm thấy trong 1 Đến30 kVPhạm vi cung cấp độ phân giải subnanomet cũng như độ tương phản nâng cao, đáp ứng nhu cầu đo lường chính xác vật liệu mà không làm suy yếu kính hiển vi điện tử quét truyền thống(SEM)Lượng tiêu thụ cao, năng lực phân tích,Ưu điểm như tính linh hoạt của mẫu và tính dễ sử dụng.

VeriosỨng dụng khoa học vật liệu

Đối với các nhà khoa học vật liệu,VeriosĐặc tính nano có thể được mở rộng cho các vật liệu hoàn toàn mới đang được phát triển hiện nay (ví dụ: hạt xúc tác, ống nano, lỗ chân lông, giao diện, vật thể sinh học và các cấu trúc nano khác), cho phép họ có được những khám phá mới quan trọng. Không cần phải thay đổi.TEMHay các công nghệ hình ảnh khác có thể thu được hình ảnh có độ phân giải cao, độ tương phản cao.VeriosLinh hoạt cho các ứng dụng nghiên cứu khác nhau, có thể chứa các mẫu lớn như wafer kích thước đầy đủ hoặc mẫu luyện kim. Bạn có thể thực hiện phân tích nhanh ở chế độ dòng điện cao hoặc thực hiện các ứng dụng tạo mẫu chính xác như lắng đọng trực tiếp vật liệu cảm ứng chùm tia điện tử hoặc in thạch bản.

Điện áp thấp tuyệt vờiSEMĐộ phân giải và độ tương phản vật liệu

VeriosĐược thiết kế để tăng kết quả có thể xuất bản trong phòng thí nghiệm của bạn.VeriosCó thể500 eVĐến30 keVĐộ phân giải subnanomet trong phạm vi năng lượng đầy đủ mở rộng cho các loại vật liệu mới (ví dụ: hạt xúc tác, ống nano, lỗ chân lông, giao diện, đối tượng sinh học và các cấu trúc nano khác). Không cần phải thay đổi.TEMHay các công nghệ hình ảnh khác có thể thu được hình ảnh có độ phân giải cao, độ tương phản cao.VeriosCó thể linh hoạt vận chuyển cho các ứng dụng nghiên cứu khác nhau, có thể chứa các mẫu lớn như wafer kích thước đầy đủ hoặc mẫu luyện kim. Bạn có thể thực hiện phân tích nhanh ở chế độ dòng điện cao hoặc thực hiện các ứng dụng tạo mẫu chính xác như lắng đọng trực tiếp vật liệu cảm ứng chùm tia điện tử hoặc in thạch bản.

Khám phá độ phân giải caoSEMThế giới giới thiệu

VeriosVângFEIDẫn đầuXHR SEMSản phẩm thế hệ thứ hai, thông qua 1 Đến30 kVĐộ phân giải subnanomet của dải năng lượng để cung cấp hình ảnh chính xác. Nó có khả năng cung cấp độ tương phản tuyệt vời cần thiết để đo chính xác vật liệu trong nhiều lĩnh vực ứng dụng mà không ảnh hưởng đến thông lượng cao, chức năng phân tích, tính linh hoạt của mẫu và truyền thống.SEMTính dễ sử dụng.VeriosCó các công nghệ độc đáo, chẳng hạn như ống kính công suất không đổi có thể cải thiện độ ổn định nhiệt và quét tĩnh điện có thể cải thiện tuyến tính lệch. Nó rất linh hoạt trong việc lựa chọn các thông số, xử lý các mẫu lớn hoặc hỗ trợ nhiều ứng dụng hơn như phân tích hoặc in thạch bản. Trợ giúpVerios XHR SEMCả người dùng tạm thời và chuyên gia đều có quyền truy cập vào dữ liệu kích thước nano chính xác và đầy đủ trong một khoảng thời gian ngắn để khám phá thông tin mà trước đây không thể có được khi sử dụng các công nghệ khác.