Việt(Người dùng)Máy hồ sơ quang học（Giao thoa kế ánh sáng trắng）Giới thiệu sản phẩm, ứng dụng

Một,Giới thiệu dòng sản phẩm：

Việt(Người dùng)Là một chương trình đo lường và phát hiện bề mặt ba chiều ****, cung cấp một chương trình mô tả hồ sơ ba chiều không tiếp xúc nhanh chóng, đáng tin cậy và dễ sử dụng. Các mẫu nhỏ dưới kính hiển viSản phẩm MEMSCấu trúc, lớn đến hoàn chỉnh động cơ cơ khí. Các chương trình này cung cấp độ nhạy và ổn định cho các nhà nghiên cứu và kỹ sư R&D, sản xuất và kiểm soát chất lượng. Đây là thách thức mà các phương pháp đo lường khác phải đối mặt trong các ứng dụng đo bề mặt ba chiều tinh tế.

Brooker's Optical Profiler dựa trêncủa Wyko ®Công nghệ cốt lõi độc quyền, được tích lũy qua mười thế hệ, cung cấp độ chính xác và ổn định cao mà các hệ thống đo lường khác không thể đạt được. Ngày nay, những thứ này đang trở thành những ứng dụng chính của các phép đo 3D bề mặt chính xác. Các công cụ đo lường của chúng tôi đã được chứng minh là hỗ trợ nghiên cứu và khám phá trong phòng thí nghiệm và môi trường sản xuất.，Thiết bị được sử dụng rộng rãi trong chất bán dẫn, quang học và các ngành công nghiệp khác。

Brooker's Optical Profiler bao gồm các mô hình sau: Desktop SeriesSản phẩm ContourX-100，X200，X500,Dòng sànSản phẩm ContourX-1000，NPFLEX-1000Và đặc biệt là......Bộ phận PCBBảng điều khiển được thiết kếContourSPVà phân tích bề mặt trong lĩnh vực lưu trữ dữ liệu.HD9800+。

Hai,Giới thiệu tính năng：

Máy đo quang học 3D của Brooke......Không tiếp xúc, độ chính xác cao, khả năng thích ứng cao được phân biệt，Có thể cung cấp từ vi mô cho R&D, kiểm soát chất lượng và sản xuất trực tuyến Sản phẩm MEMSCấu trúc cho toàn bộ mảnh300 mm*** Giải pháp đo bề mặt 3D cho wafer và thậm chí các bộ phận có kích thước lớn hơn. Các chức năng chính được liệt kê dưới đây.

1、Đo lường hình dạng bề mặt chính xác cao:< 0,01 nmĐộ phân giải bề mặt,<0.1%Bậc thang có tính lặp lại cao.

2、Đáp ứng các tiêu chuẩn theo dõi kết quả: Brook 3D quang hồ sơ như một thiết bị đo lường, đo chiều cao là cực kỳ chính xác.

3、Chế độ đo phổ quát: Tự động xác định kết cấu bề mặt và tối ưu hóa tín hiệu, phụ thuộc vào độ chính xác subnanomet và chiều cao bước lớn.

4、Nhà EliteTăng cường hình ảnh: cung cấp độ trung thực cao trong khi duy trì độ chính xác đo lường2DHình ảnh quang học.

5、Nghiêng/Đầu quang pitch: Các mô hình cụ thể nhận ra vị trí đo và lấy nét không thay đổi khi nghiêng đầu bên, cải thiện đáng kể hiệu quả thử nghiệm và tiện lợi sử dụng.

6、Phần mềm phân tích hiệu quả: Hàng ngàn bộ lọc trước với kịch bản phân tích, đầu ra một cú nhấp chuộtSố lượng ISO 25178、Hệ thống ASME B46.1Các tham số tiêu chuẩn quy định.

7、Xử lý hàng loạt tự động: lấy nét tự động, chiếu sáng tự động, nhập khẩu tệp tọa độ, nhận dạng mẫu vàSản phẩm ESDBảo vệ, thực hiện đo lường hàng loạt "một phím".

8、Chế độ đo độ dày màng: Độ dày màng của màng được tính bằng cách đo tín hiệu phản xạ trên bề mặt trên và dưới của màng trong suốt.

Ba,Giới thiệu ứng dụng:

1、Gia công chính xác: Hệ thống đo lường mức độ, đo lường chính xác và hiệu quả của chất lượng bề mặt gia công chính xác hoặc kích thước ba chiều của mô hình gia công vi nạp, cung cấp phản hồi và báo cáo đầy đủ cho giám sát, theo dõi, đánh giá quá trình, cải thiện đáng kể hiệu quả phát triển quy trình.

2、Hệ thống vi điện và cảm biến: Cung cấp thông lượng cao và độ lặp lại cao của độ sâu khắc, độ dày màng, chiều cao bước và đo độ nhám bề mặt, cung cấp bảo đảm chính xác và hiệu quả cao cho việc giám sát quá trình.

3、****: Đo lường chính xác và lặp lại các loại bề mặt **** như vật liệu cấy ghép và các thành phần để đảm bảo chất lượng.

4、Ma sát và mài mòn: Đo định lượng khối lượng hao mòn, phân tích và đánh giá chính xác ma sát, mài mòn, bôi trơn, ăn mòn trên vật liệu/Hiệu suất và tác động của tuổi thọ của các thành phần.

5、Chất bán dẫn: Đo độ nhám, độ phẳng; Xác định và phân tích chiều cao lồi, tính phổ biến và khuyết tật; Và các phép đo kích thước ba chiều quan trọng của các đường khác nhau, lỗ, lớp màng và các cấu trúc khác. REFERENCES [Tên bảng tham chiếu] (RDL() Lỗ thủng silicon xếp chồng lên nhau 3 chiều.TSV) Giám sát kích thước 3 chiều của các công nghệ như bảng tải.

6, Quang học: Đo lường chính xác và lặp đi lặp lại của vật liệu quang học, bề mặt của các thành phần, đánh giá định lượng bệnh tật, giúp tối ưu hóa quá trình xử lý. Ví dụ, tất cả các loại mặt phẳng quang học, giám sát chất lượng bề mặt cong, cũng như đo lường tự động cấu trúc quang học micronal (chu kỳ, độ sâu, v.v.) và mảng thấu kính vi mô (đường kính, độ cong, mũi tên cao).