I. Tầm quan trọng của ánh sáng

Loạn thị VângUV ngoàiMáy quang phổ có thể nhìn thấyCác chỉ số kỹ thuật quan trọng. Nó làMáy quang phổ UV có thể nhìn thấyNguồn chính của lỗi phân tích, nó trực tiếp giới hạn nồng độ trên của mẫu thử nghiệm được phân tích. Khi dị tán của một máy quang phổ UV có thể nhìn thấy được xác định, nồng độ mẫu vật được phân tích càng lớn, lỗi phân tích của nó càng lớn. Astm tin rằng: "Dị xạ có thể là nguồn gây ra lỗi chính trong các phép đo phổ. Đặc biệt là khi thử nghiệm phân tích ở nồng độ cao, dị xạ thậm chí còn quan trọng hơn". Một số tài liệu đã báo cáo rằng trong phân tích phổ hấp thụ của vùng ánh sáng khả kiến UV, nếu thiết bị có 1% ánh sáng loạn xạ, thì 2. Khi thử nghiệm mẫu 0a, nó sẽ gây ra lỗi phân tích 2%, cho thấy sự hiện diện của ánh sáng loạn xạ này trong thiết bị. Nhưng điều quan trọng cần lưu ý là có khả năng gây nhầm lẫn khi thiết bị có lỗi điểm không. Nếu màu trắng được phủ lên mẫu mờ, nó có thể làm tăng hiệu ứng phản xạ và tán xạ của chính mẫu, có thể cải thiện độ nhạy đo. Dạng thứ hai đề cập đến ánh sáng ngoài bước sóng thử nghiệm, đi chệch khỏi đường dẫn ánh sáng bình thường đến bộ chuyển đổi quang điện. Nó thường được gây ra bởi một số khiếm khuyết trong hệ thống quang học. Chẳng hạn như bề mặt của các thành phần quang học bị trầy xước, thiết kế hệ thống quang học của dụng cụ không tốt, gia công kém các bộ phận cơ khí, làm cho vị trí đường dẫn ánh sáng bị dịch sai, v.v.

Ảnh hưởng sai số của dị xạ đối với kết quả kiểm tra phân tích tăng lên khi giá trị hấp thụ tăng lên. Do đó, giá trị hấp thụ càng lớn, ảnh hưởng đến lỗi càng lớn.


II. Nguồn gốc của ánh sáng

Có rất nhiều nguyên nhân gây ra ánh sáng loạn xạ, và nguyên nhân chính của nó là khoảng 9 trong số những nguyên nhân sau:

① Bụi bẩn các thành phần quang học (như lưới, lăng kính, ống kính, gương, bộ lọc, v.v.).

② Thành phần quang học bị hư hại, hoặc các khuyết tật khác do thành phần quang học tạo ra (ví dụ: lưới, ống kính, gương, bong bóng trong vật liệu lăng kính, v.v.).

③ Phản xạ bên trong hệ thống chuẩn trực hoặc liên quan đến các cạnh của vách ngăn.

Hệ thống quang học không được che chắn tốt.

Phát xạ điện tử thứ cấp do bức xạ nhiệt hoặc huỳnh quang.

Khuyết điểm của khe hở.

Khẩu độ chùm sáng không khớp.

Hệ thống quang học chênh lệch.

Tường trong máy đơn sắc bị hắc hóa xử lý không đúng.

Trong 9 mặt trên, các lưới sáng là nguồn gốc chủ yếu của ánh sáng tán loạn. Nó tạo ra hơn 80% ánh sáng hỗn loạn tổng thể.

III. Phương pháp kiểm tra loạn thị

Hiện nay, phương pháp phổ biến nhất để kiểm tra nhiễu loạn là "t he cut off filtermethod" hoặc "the filte r method". Chủ yếu là sử dụng bộ lọc hoặc chất lỏng lọc để kiểm tra ánh sáng dị tán của máy quang phổ UV có thể nhìn thấy. 632,8nm của laser he-ne đôi khi cũng được sử dụng để kiểm tra nhiễu loạn. Thực hành cụ thể là thử nghiệm ở khoảng cách 632,8nm ± 5nm và đo được giá trị của 632. 8nm là ánh sáng hỗn loạn. Phương pháp kiểm tra cụ thể của "bộ lọc cắt": thiết bị khởi động ở trạng thái lạnh, làm nóng trước 0. 5h , Nếu được kiểm tra bằng "phương pháp lọc", tham chiếu là không khí; Nếu dùng dung dịch lọc để kiểm tra, thì tỷ lệ tham gia là dung môi (nếu dùng dung dịch nước nai, nano2 thì tỷ lệ tham gia là nước cất). Đặt tọa độ dọc của dụng cụ là%t, tọa độ ngang là bước sóng nm), khi sử dụng chất lỏng lọc, đĩa so sánh mẫu thử chứa chất lỏng lọc, chất lỏng hòa tan trong đĩa so sánh, điều chỉnh bước sóng trên bước sóng tương ứng (nai là 220nm, nano2 là 340nm) để kiểm tra.

Dụng cụ được nghiên cứu và sản xuất bởi công cụ phân tích phổ Thượng Hải sử dụng ống kính phủ UV hiệu suất cao,

Tu-1901 Tu-1901plus Tu-1810 Tu-1810plus Dispersion có thể được kiểm soát trong vòng 0,03% T